當(dāng)前位置:艾博納微納米科技(江蘇)有限責(zé)任公司>>儀器設(shè)備>>探針臺(tái)>> 手動(dòng)探針臺(tái)
產(chǎn)品特點(diǎn)
1、精確性和控制:手動(dòng)探針臺(tái)可以實(shí)現(xiàn)1微米的精確控制,確保在微米尺度上的精確定位。
2、靈活性:使用時(shí)可以手動(dòng)旋轉(zhuǎn)、上下、左右或傾斜探針或樣品臺(tái),以滿足不同實(shí)驗(yàn)需求,適應(yīng)不同樣品的形狀和大小。
3、實(shí)時(shí)反饋:配備顯微鏡和尼康CCD(可見光至中近紅外波段),允許實(shí)時(shí)觀察探針和樣品的相對(duì)位置,確保準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)。
4、簡單操作:設(shè)計(jì)直觀,操作簡單,容易上手。
5、穩(wěn)定性:結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)堅(jiān)固,采用高質(zhì)量材料制成,測(cè)量時(shí)全設(shè)備密封無塵,確保長期穩(wěn)定運(yùn)行。
6、兼容性:能夠配合多種探針和光電測(cè)量系統(tǒng),可外接皮秒、飛秒激光器,進(jìn)行光電流探測(cè)??赏饨永沃C波等光學(xué)無損測(cè)量。
7、可定制性:可根據(jù)用戶的特定需求定制,比如探針的長度、角度以及臺(tái)座的大小等,以滿足特殊應(yīng)用條件。
產(chǎn)品部件
1.穩(wěn)定的基座
由硬質(zhì)鋁合金板制成,確保整體結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性和減少外部振動(dòng)的影響。
2.探針臂
探針頭:用于直接接觸樣品進(jìn)行測(cè)量的部分,可以更換以適應(yīng)不同的測(cè)量需求。
微調(diào)機(jī)構(gòu):包括用于微調(diào)探針位置的精密螺旋,允許精細(xì)調(diào)整探針頭的位置和角度,以實(shí)現(xiàn)精確對(duì)準(zhǔn)。
3.探針
針尖類型:根據(jù)測(cè)量需求,探針的材質(zhì)、形狀和尺寸可以更換,如鎢針、金針等。
多通道探針:用于同時(shí)進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量或信號(hào)輸入/輸出。
4.樣品臺(tái)
微動(dòng)臺(tái):允許精細(xì)調(diào)整樣品的位置,以便于探針的對(duì)準(zhǔn)和接觸。
旋轉(zhuǎn)和傾斜機(jī)構(gòu):用于調(diào)整樣品的角度,以適應(yīng)不同的測(cè)量需求。
5.顯微鏡放大設(shè)備
立體顯微鏡:用于放大和觀察探針與樣品之間的接觸區(qū)域。
攝像頭:配備攝像頭以方便用戶從屏幕上觀察操作。
6.光學(xué)和照明設(shè)備
光源:提供足夠的照明,幫助用戶更清晰地觀察樣品和探針。
偏光器、濾光片:用于特定的光學(xué)觀察和測(cè)量。
7.連接和接口
電纜和連接器:用于將探針臺(tái)與測(cè)量儀器或計(jì)算機(jī)連接,進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和控制。
接地線:減少電氣干擾,提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
8.防振解決方案
防振臺(tái):減少環(huán)境振動(dòng)對(duì)測(cè)量的影響。
隔振墊或氣墊:用于進(jìn)一步降低振動(dòng)和噪聲。
產(chǎn)品功能
半導(dǎo)體器件的特性測(cè)試:
在半導(dǎo)體器件制造過程中,用于測(cè)量和分析晶體管、二極管等微型器件的電學(xué)性能,如電流-電壓(I-V)特性。
納米材料的電學(xué)性能評(píng)估:
對(duì)于納米線、納米管等納米尺度材料,使用進(jìn)行電導(dǎo)率、電阻率等基本電學(xué)特性的測(cè)量。
薄膜材料的測(cè)試:
在研究薄膜太陽能電池、發(fā)光二極管(LED)等薄膜材料時(shí),用于測(cè)試薄膜的電學(xué)性能和均勻性。
化學(xué)氣相沉積(CVD)制備的材料測(cè)試:
對(duì)于通過CVD技術(shù)制備的石墨烯、過渡金屬硫化物等二維材料,使用探針臺(tái)進(jìn)行電學(xué)特性測(cè)試,如場(chǎng)效應(yīng)遷移率的測(cè)定。
微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)的功能測(cè)試:
在MEMS設(shè)備的研發(fā)中,手動(dòng)探針臺(tái)被用于測(cè)試微型機(jī)械元件的電學(xué)響應(yīng),確保其性能符合設(shè)計(jì)要求。
光電材料的性能評(píng)估:
在研究有機(jī)光電材料時(shí),例如有機(jī)光伏材料和有機(jī)發(fā)光材料,探針臺(tái)用于測(cè)量材料的光電轉(zhuǎn)換效率和發(fā)光特性。